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玉米表型檢測系統(tǒng) HT-YB-I 支持非破壞性測量玉米植株，一鍵分析可測 量葉片的多種參數(shù)：整體參數(shù)：凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角 投影面積、株高；局部關鍵參數(shù)：莖稈節(jié)間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角。
精誠華泰 玉米表型檢測儀 可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長研究等方面起到重要作用。
小麥表型檢測系統(tǒng) HT-XMB-1可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、小穗數(shù)、總粒數(shù)、千粒重和莖稈莖節(jié)長度等指標的測量，可多點快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。
高桿植物表型檢測系統(tǒng) HT-YB-I可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。
精誠華泰HT-YB-I 玉米表型檢測系統(tǒng) 可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長研究等方面起到重要作用。
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